半导体组件参数分析-半导体组件参数分析-苏试宜特

半导体组件参数分析

利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流，验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。

CHINAiSTI 苏试宜特能为您做什么？

可协助验证及量测半导体电子组件的参数与特性，如电容-电压特性曲线、电压-电流(IV)、电阻、电容、电感值量测或信号波形等，藉此了解组件的故障行为，以利后续的分析动作。

可在 0.1 fA - 1 A / 0.5 µV - 200 V 范围内进行精确的电流-电压（IV）测量，支持点测量、扫描测量、采样和脉冲测量

在 1 kHz 至 5 MHz 频率范围内进行交流电容测量，支持准静态电容-电压（QS-CV）测量

可选择不同模式（先进的脉冲 IV 测量和超快 IV 测量），最低采样间隔为 5 ns（200 MSa/s）

电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)

辅助后续电性测试(Force V measure I / Force I measure V)

Keysight B1500A

设备极限

最多4 Channels、最高电压200 V、最大限流1A，功率为20W。

联络窗口

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