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研讨会前言

7月,由苏州工业园区经发委指导,苏试试验下属子公司苏试宜特苏宜虹与园区集成电路公司将共同举办举办集成电路可靠性及失效分析验证实践。该技术研讨会将着眼于目前热点应用市场和现有的挑战和难点,我们诚挚地邀请您莅临研讨会现场,一起深入了解最新的科技趋势,探讨半导体产业的高质量发展!

会议议程 / 2024年07月05日(星期五)

时间
主题
演讲人
13:30-14:00
嘉宾签到
14:00-14:10
致欢迎词
14:10-14:20
园区集成电路公共服务平台推介
14:20-15:20
主题演讲:如何理解及规划半导体芯片可靠性验证
15:20-15:45
茶歇
15:45-16:30
主题演讲:半导体芯片失效分析实践与案例
16:30-17:00
主题演讲:蔡司电镜半导体失效分析应用分享
17:00-17:15
自由交流/实验室参观

讲师简介

黄承梁
卡尔蔡司-业务发展经理

殷 荣
苏试宜特(上海)-客户工程部 专案经理

葛金发
苏试宜特(上海)可靠度工程部 部长

报名信息

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▶ 名额有限,请尽早注册报名;
▶ 主办单位保留报名资格的最后审核权利,并于活动前发送确认短信至您的手机上;
▶ 未能准时报到或当天无法出席的学员,恕无法为您保留座位;
▶ 若因不可预测的突发因素,主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项的权利;
▶ 现场报名的学员,主办单位视现场状况保有开放进场与否的权利。

主协办单位

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